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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits
A Guide to the IEEE 1149. 4 Test Standard
| 제목 | Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149. 4 Test Standard |
|---|---|
| 저자 | Nicola Nicolici, Bashir M. Al-Hashimi |
| 출판사 | Springer London, Limited |
| 출간 | 2006 |
| 쪽수 | 178쪽 |
| 언어 | 영어 |
| ISBN | 9780306487316 |
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