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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing)
| 제목 | Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing) |
|---|---|
| 저자 | Manoj Sachdev, José Pineda de Gyvez |
| 출판사 | Springer |
| 출간 | June 21, 2007 |
| 쪽수 | 328쪽 |
| 언어 | 영어 |
| ISBN | 9780387465463 |
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