홈 / 책 찾기 / Characterization of High Tc Materials an…

Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy 표지

Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy

출판사
Cambridge University Press
출간
July 24, 2000
쪽수
406쪽
제본
양장(하드커버)
언어
영어
ISBN
9780521554909
상태
수량
배송

해외에서 들여옵니다. 보통 2~3주, 지금 주문하시면 11월 17일에서 11월 24일 사이 도착 예상

가격견적 요청

담아 두시면 24시간 안에 가격을 알려 드립니다. 가격을 보시고 결제하시면 됩니다.