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2000 IEEE International Workshop on Defect Based Testing
April 30, 2000, Montreal, Canada : proceedings
| 제목 | 2000 IEEE International Workshop on Defect Based Testing: April 30, 2000, Montreal, Canada : proceedings |
|---|---|
| 저자 | IEEE International Workshop on Defect Based Testing (2000 Montréal, Québec) |
| 출판사 | IEEE Computer Society |
| 출간 | 2000 |
| 쪽수 | 82쪽 |
| 언어 | 영어 |
| ISBN | 9780769506371 |
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