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DBT 2004

2004 IEEE International Workshop on Current & Defect Based Testing : proceedings : April 25, 2004, Napa Valley Marriott, Napa Valley, CA, USA

저자
IEEE International Workshop on Defect Based Testing (2004 Napa, Calif.)
출판사
IEEE
출간
2004
쪽수
112쪽
언어
영어
ISBN
9780780389502
상태
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