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Applied Measurement with Jmetrik
- 저자
- J. Patrick Meyer
- 출판사
- Routledge
- 출간
- 2014
- 쪽수
- 171쪽
- 언어
- 영어
- ISBN
- 9781306874786
| 제목 | Applied Measurement with Jmetrik |
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| 저자 | J. Patrick Meyer |
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| 출판사 | Routledge |
|---|
| 출간 | 2014 |
|---|
| 쪽수 | 171쪽 |
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| 언어 | 영어 |
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| ISBN | 9781306874786 |
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