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IEEE Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture
Includes Supplement (Includes Ieee Std 1149.1a-1993, Ieee Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture)
| 제목 | IEEE Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture: Includes Supplement (Includes Ieee Std 1149.1a-1993, Ieee Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture) |
|---|---|
| 저자 | Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| 출판사 | Institute of Electrical & Electronics Enginee |
| 출간 | October 1993 |
| 쪽수 | 176쪽 |
| 제본 | 무선(페이퍼백) |
| 언어 | 영어 |
| ISBN | 9781559373500 |
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