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In-Situ Electron Microscopy
Applications in Physics, Chemistry and Materials Science
| 제목 | In-Situ Electron Microscopy: Applications in Physics, Chemistry and Materials Science |
|---|---|
| 저자 | Gerhard Dehm, James M. Howe, Josef Zweck |
| 출판사 | Wiley & Sons, Incorporated, John |
| 출간 | 2012 |
| 쪽수 | 402쪽 |
| 언어 | 영어 |
| ISBN | 9783527652198 |
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