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Advances in Scanning Probe Microscopy
This book covers several of the most important topics of current interest in the forefront of scanning probe microscopy. These include a realistic theory of atom-resolving atomic force microscopy (AFM), fundamentals of MBE growth of III-V compound semiconductors and atomic manipulation for future single-electron devices.
| 제목 | Advances in Scanning Probe Microscopy |
|---|---|
| 저자 | T. Sakurai, Y. Watanabe |
| 출판사 | Springer London, Limited |
| 출간 | 2012 |
| 쪽수 | 343쪽 |
| 언어 | 영어 |
| ISBN | 9783642569494 |
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