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Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis 표지

Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis 3rd ed. 2003. Corr. 2nd printing edition

저자
Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, David C. Joy
출판사
Springer
출간
February 2003
쪽수
689쪽
제본
양장(하드커버)
언어
영어
ISBN
9780306472923
상태
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주제
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