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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Third Edition

저자
Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, David C. Joy
출판사
Springer
출간
2013
쪽수
689쪽
언어
영어
ISBN
9781461349693
상태
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주제
Scanning electron microscopyX-ray microanalysisScanning electron microscopesX-raysX-ray microscopesMaterials scienceGeneralNanotechnology & memsScz17000Scz00000Sca11007Scl26000

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