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Power-Constrained Testing of Vlsi Circuits

판 3개, 최신 판부터

Power-Constrained Testing of Vlsi Circuits

Springer, 2010, 무선(페이퍼백), ISBN 9781441953155

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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits

Springer London, Limited, 2006, ISBN 9780306487316

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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing)

Springer, 2003, 양장(하드커버), ISBN 9781402072352

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