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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

판 3개, 최신 판부터

Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

Springer, 2010, 무선(페이퍼백), ISBN 9781441942852

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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

Springer London, Limited, 2007, ISBN 9780387465470

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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing)

Springer, 2007, ISBN 9780387465463

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